Yield & Robustness in Today’s Advanced Technology Nodes

  • Vytvořeno: 15. Březen 2016 - 7:36
  • Autor: Marie Hoťková
 Chcete vědět, jak fungují moderní integrované obvody, kterými máte napěchován váš chytrý telefon, hodinky, navigaci, notebook a spousta dalších věcí, bez kterých si dnešní digitální svět ani nedokážete představit? 
 
Nanometrové velikosti tranzistorů nám sice dovolují vyrábět stále složitější a výkonnější integrované obvody s miliardami tranzistorů, ale toto neustále zmenšování přináší velké problémy. Obvody jsou tak náchylnější k poruchám a mají mnohem větší rozptyl možných provozních podmínek. Testování integrovaných obvodů se tak stalo klíčovou výzkumně-vývojovou oblastí se spoustou chytrých inženýrských nápadů, bez které se návrh a výroba integrovaných obvodů neobejde.
 
Dr. Yervant Zoria, jeden z nejuznávanějších světových expertů v oblasti návrhu a testování integrovaných obvodů a jeden z nejvýznamnějších představitelů IEEE, vám prozradí, jak čipy s miliardami tranzistorů navrhovat, vyrábět a testovat se zaměřením na FinFET výrobu. V přednášce představí i některé převratné techniky, díky nimž lze takové čipy dokonce opravovat za běhu.