Chcete vědět, jak fungují moderní integrované obvody, kterými máte napěchován váš chytrý telefon, hodinky, navigaci, notebook a spousta dalších věcí, bez kterých si dnešní digitální svět ani nedokážete představit?

Nanometrové velikosti tranzistorů nám sice dovolují vyrábět stále složitější a výkonnější integrované obvody s miliardami tranzistorů, ale toto neustále zmenšování přináší velké problémy. Obvody jsou tak náchylnější k poruchám a mají mnohem větší rozptyl možných provozních podmínek. Testování integrovaných obvodů se tak stalo klíčovou výzkumně-vývojovou oblastí se spoustou chytrých inženýrských nápadů, bez které se návrh a výroba integrovaných obvodů neobejde.

Dr. Yervant Zoria, jeden z nejuznávanějších světových expertů v oblasti návrhu a testování integrovaných obvodů a jeden z nejvýznamnějších představitelů IEEE, vám prozradí, jak čipy s miliardami tranzistorů navrhovat, vyrábět a testovat se zaměřením na FinFET výrobu. V přednášce představí i některé převratné techniky, díky nimž lze takové čipy dokonce opravovat za běhu.

Kdy: 18. 3. 2016, 11:00 Kde: FIT ČVUT, Thákurova 9, T9:155 Kdo: Dr. Yervant Zorian https://www.synopsys.com/Company/Pages/yervant-zorian.aspx Co: Yield & Robustness in Today’s Advanced Technology Nodes

Web ČJ: http://fit.cvut.cz/fakulta/pravidelne_akce/prednaskovy-cyklus-prof-svobody

přednáška http://fit.cvut.cz/fakulta/pravidelne_akce/prednaskovy-cyklus-prof-svobody/Zorian/prednaska

Web EN: http://fit.cvut.cz/en/faculty/regular-events/prof-svoboda-lectures

seminar http://fit.cvut.cz/en/faculty/regular-events/prof-svoboda-lectures/Zorian/lectures

FB event: https://www.facebook.com/events/1578278559129033/?active_tab=posts